老化及测试

半导体器件老化系统，高密集度，高性价比，支持TO、BF、DIL及定制封装，支持APD、PD、LD等各种器件的老化及在线测试。

主要特性

1、定制电流范围：100uA ~ 20A；

2、定制电压范围：3.3V ~ 100V；

3、工作模式：ACC，APC，LIV；

4、监控每个通道器件状态；

5、各种封装器件，定制化封装；

6、定制老化容量：≤1280，需根据封装及参数评估；

7、高温范围：85℃-125℃-150℃-175℃-200℃

8、探针式老化夹具加工能力：最高可支持300um（ 11.8mil）探针安装节距