半导体激光二极管可靠性老化测试系统
LHX-302-COC激光器可靠性与老化测试系统
LHX-302 是一款基于风冷、电加热的机架式老化平台,支持高密度、高可靠性的激光器寿命测试、老化测试和性能测试。
产品特点
LHX-302激光器可靠性与老化测试系统提供:
- 可同时老化最多达1280 个激光器
- 每通道最高2A的激光驱动电流
- 灵活可靠的热插拔操作,容量扩展简单
- 更换老化抽屉可支持不同封装的激光器老化
- APC、ACC和LIV测试模式
- 老化抽屉支持使用外部和/或内部光电二极管的测量
- 集成Reliability Sys控制软件
- 实时查看当前运行的通道状态及测试数据,可导出已保存的测试数据
- 直观的图形界面,用于查看系统和测试状态
- 停电和限电时仍可对已保存数据进行处理
- 网络故障时,控制测量模块可自动保存至少5h 老化数据(以5 分钟/次计算)
老化电源
LIV测试系统
32通道COC夹具
300µm间距探针落点重复性测试
系统 | |
系统容量 | up to 1280 |
封装类型 | TO-Can, Butterfly, COC, Custom |
每夹具工位 | up to 32 |
温度控制 | |
温度范围 | +40 - +120 ℃ |
温度控制单位 | 单个抽屉 |
温度控制精度 | ± 1.0℃ |
温度控制稳定性 | ± 1.0℃ |
激光器控制 | |
输出极性 | 独立并联输出,共阴极,定制 驱动电流 |
输出范围 | 200mA(典型值),可定制到2000mA |
设置精度 | ± 1% of FS |
输出稳定性 | ± 1% of FS |
顺从电压 | 3.3V(典型值);可定制高压 |
控制模式 | 恒流,恒功率(定制),LIV测试 |
测量功能 | |
激光器电压 | |
范围 | + 3.3V(典型值) |
精度 | ± 0.1V |
内置PD偏转电压(定制) | 0 - 8V |
测量范围(定制) | 20 - 5000 µA |
稳定性(定制) | ± 5 µA |
前端面PD(LIV功能) | |
波长范围 | 400 - 1600nm |
测量模式 | 相对变化值 |
Ith计算重复精度 | ≤ 3% |
通用特性 | |
规格 (HxWxD) cm | 200 x 130 x 84 |
电源需求 | 350-420 VAC, 50/60 Hz, 50A,三相 |
系统控制计算机及监控软件 | |
计算机 | 奔腾4核处理器,4G内存,10G空闲磁盘空间 |
显示器 | 14 寸(分辨率:1024*768) |
UPS备用电源 | > 1h |
操作系统 | Microsoft Windows® |
系统控制软件 | Reliability Sys |
程序代码 | 可执行程序 |
说明:
稳定性测量时间为48小时。
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